ОЦЕНКА РИСКОВ ПРОЦЕССА НОРМОКОНТРОЛЯ ДОКУМЕНТАЦИИ НА ПРЕДПРИЯТИИ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ

Введение

В высокотехнологичных отраслях, таких как микроэлектроника, безусловное соответствие продукции нормативным требованиям является основой её надежности, безопасности и конкурентоспособности [1]. Процесс нормоконтроля документации играет в этом ключевую роль, выступая фильтром, предотвращающим выпуск несоответствующей продукции. Однако этот процесс сам по себе подвержен многочисленным рискам, связанным с человеческим фактором, изменчивостью нормативной базы, сложностью документации и организационными аспектами. Неэффективное управление этими рисками может привести к серьезным последствиям: задержкам в производстве, финансовым потерям, юридическим проблемам и ущербу репутации предприятия.

Целью данного исследования является комплексная оценка рисков процесса нормоконтроля документации на предприятии, специализирующемся на разработке микроэлектронных изделий для авиационно-космической техники.

Задачами работы стали: идентификация и классификация рисков, их экспертная оценка, построение матриц для визуализации и приоритизации, углубленный анализ наиболее критичных угроз и разработка рекомендаций по их минимизации.

Методология и результаты оценки рисков

В качестве объекта исследования был выбран процесс нормоконтроля конструкторской и технологической документации в соответствии с требованиями ГОСТ 3.1116 и Федерального закона № 162-ФЗ [2, 3]. Для систематизации угроз был разработан классификатор рисков, включающий семь основных категорий (факторов): технический, кадровый, законодательный, финансовый, инфраструктурный, правовой и организационный. Каждая категория детализирована через конкретные формулировки рисков (Табл. 1).

Таблица 1.

Фрагмент классификатора рисков процесса нормоконтроля

На основе классификатора и экспертных опросов был сформирован реестр рисков, содержащий 21 позицию. Для каждого риска оценены вероятность возникновения (P) и тяжесть последствий (S) по трехбалльной шкале, а также вычислен уровень риска (1).

R = P × S                                                                                            (1)

Определены владельцы рисков и запланированы мероприятия по их обработке (снижению вероятности или последствий). Наглядно динамика изменения риск-ландшафта представлена на матрицах рисков 3x3, построенных для состояния до и после внедрения корректирующих мероприятий (Рис. 1, 2). Анализ матриц показывает, что запланированные меры позволяют значительно снизить как вероятность, так и тяжесть большинства рисков, смещая их в зону приемлемого уровня.

Рисунок 1. Матрица рисков до обработки

Рисунок 2. Матрица рисков после обработки

В качестве наиболее критичного был выбран риск В.4 «Возникновение текучести кадров и потеря знаний» (исходный уровень риска R=6). Для него проведен анализ корневых причин с использованием диаграммы Исикавы, выделены шесть групп факторов: процессы, сотрудники, технологии, ресурсы, управление, внешняя среда. Экспертная оценка значимости этих причин (по 9-балльной шкале) и последующее построение диаграммы Парето позволили выявить ключевые драйверы риска: неконкурентная заработная плата, отсутствие возможностей для продвижения и карьерного роста, отсутствие баланса между работой и личной жизнью, а также неоптимизированные рабочие процессы. На основе этого анализа была разработана детализированная диаграмма «галстук-бабочка», наглядно связывающая причины, угрозу, барьеры управления, последствия и меры по восстановлению для данного риска.

Для количественной оценки эффективности мер управления на уровне конкретного элемента процесса был применен метод АВПКО (Анализ видов, последствий и критичности отказов). В качестве анализируемого элемента выбрана «Проверенная документация». Для выявленных видов отказов (например, «Несоответствие требованиям ЕСКД») оценены частота возникновения (O), тяжесть последствий (S) и вероятность необнаружения (D) по 10-балльной шкале. Рассчитан индекс приоритета риска RPN (Risk Priority Number) (2).

RPN= O × S × D                                                                                    (2)

После предложения корректирующих действий (привлечение высококвалифицированных сотрудников, соблюдение регламента) оценки O, S, D и, как следствие, RPN были существенно снижены (Табл. 2), что подтверждает эффективность планируемых мероприятий.

Таблица 2.

Фрагмент таблицы АВПКО для элемента «Проверенная документация»

Заключение

Проведенное исследование позволило системно оценить риски, присущие процессу нормоконтроля документации на предприятии микроэлектронной промышленности. Разработанные инструменты - классификатор, реестр и матрицы рисков - обеспечивают наглядное представление о рисках и помогают определить приоритеты для управленческих воздействий. Глубинный анализ корневых причин критичного риска текучести кадров с использованием диаграмм Исикавы и Парето выявил ключевые области для улучшения: систему мотивации, карьерного роста и организацию труда. Применение метода АВПКО к ключевому элементу процесса доказало эффективность предлагаемых корректирующих действий через количественное снижение индекса RPN.

Результаты работы могут быть использованы руководством предприятий микроэлектроники для разработки и внедрения программы повышения устойчивости и эффективности отдела нормоконтроля. Предложенная методика является универсальной и может быть адаптирована для оценки рисков аналогичных процессов на других предприятиях, работающих в условиях жесткого нормативного регулирования.